低温弯折仪-高分子试验

低温弯折仪

使

用

说

明

书

低温弯折仪-高分子试验根据12953—2003，GB/18173.1-2006之规范设计制作。用于高分子防水材料的低温弯折试验。低温弯折仪由低温箱和弯折板配套使用。低温箱在0～-40℃之间自动调节，误差为±2℃，且能使试样在被操作过程中保持恒定温度，弯折板由金属平板、转轴和调节螺丝组成，平板间距可任意调节。

低温弯折仪-高分子试验试验条件
1、试样尺寸120X50mm.
2、试样的停放时间和试验温度应按下列要求：
从试样制备到试验，时间为24h.试验室温度控制在（23±2）℃范围内。

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根据12953—2003，GB/18173.1-2006之规范设计制作。用于高分子防水材料的低温弯折试验。低温弯折仪由低温箱和弯折板配套使用。低温箱在0～-40℃之间自动调节，误差为±2℃，且能使试样在被操作过程中保持恒定温度，弯折板由金属平板、转轴和调节螺丝组成，平板间距可任意调节。

试验条件
1、试样尺寸120X50mm.
2、试样的停放时间和试验温度应按下列要求：
从试样制备到试验，时间为24h.试验室温度控制在（23±2）℃范围内。

根据12953—2003，GB/18173.1-2006之规范设计制作。用于高分子防水材料的低温弯折试验。低温弯折仪由低温箱和弯折板配套使用。低温箱在0～-40℃之间自动调节，误差为±2℃，且能使试样在被操作过程中保持恒定温度，弯折板由金属平板、转轴和调节螺丝组成，平板间距可任意调节。

试验条件
1、试样尺寸120X50mm.
2、试样的停放时间和试验温度应按下列要求：
从试样制备到试验，时间为24h.试验室温度控制在（23±2）℃范围内。